O Teste de Estresse Altamente Acelerado (HAST) é um método de teste altamente eficaz, desenvolvido para avaliar a confiabilidade e a vida útil de produtos eletrônicos. O método simula os estresses que os produtos eletrônicos podem sofrer por um longo período, submetendo-os a condições ambientais extremas – como altas temperaturas, alta umidade e alta pressão – por um período muito curto. Esse teste não apenas acelera a descoberta de possíveis defeitos e fragilidades, como também ajuda a identificar e resolver potenciais problemas antes da entrega do produto, melhorando assim a qualidade geral do produto e a satisfação do usuário.
Objetos de teste: chips, placas-mãe, celulares e tablets aplicando estresse altamente acelerado para estimular problemas.
1. Adotando estrutura de canal duplo de válvula solenoide importada resistente a altas temperaturas, na maior extensão possível para reduzir o uso da taxa de falhas.
2. Sala independente de geração de vapor, para evitar impacto direto do vapor no produto, de modo a não causar danos locais ao produto.
3. Estrutura de economia de fechadura de porta, para resolver as deficiências difíceis de travamento de maçaneta tipo disco dos produtos da primeira geração.
4. Exaustão de ar frio antes do teste; teste no projeto de exaustão de ar frio (teste de descarga de ar do cilindro) para melhorar a estabilidade da pressão e a reprodutibilidade.
5. Tempo de execução experimental ultralongo, máquina experimental longa com duração de 999 horas.
6. Proteção do nível de água, através da detecção do sensor de nível de água da câmara de teste.
7. Abastecimento de água: abastecimento automático de água, o equipamento vem com um tanque de água e não fica exposto para garantir que a fonte de água não seja contaminada.
