O teste de estresse altamente acelerado (HAST) é um método de teste altamente eficaz projetado para avaliar a confiabilidade e a vida útil de produtos eletrônicos. O método simula as tensões que os produtos eletrônicos podem sofrer durante um longo período de tempo, submetendo-os a condições ambientais extremas – como altas temperaturas, alta umidade e alta pressão – por um período muito curto de tempo. Esses testes não apenas aceleram a descoberta de possíveis defeitos e pontos fracos, mas também ajudam a identificar e resolver possíveis problemas antes da entrega do produto, melhorando assim a qualidade geral do produto e a satisfação do usuário.
Objetos de Teste: Chips, placas-mãe e telefones celulares e tablets aplicando estresse altamente acelerado para estimular problemas.
1. Adotando estrutura de canal duplo de válvula solenóide resistente a altas temperaturas importada, na maior medida possível para reduzir o uso da taxa de falha.
2. Sala de geração de vapor independente, para evitar impacto direto do vapor no produto, de forma a não causar danos locais ao produto.
3. Estrutura de economia de fechadura de porta, para resolver deficiências difíceis de travamento de alça tipo disco de primeira geração de produtos.
4. Exauste o ar frio antes do teste; teste no projeto de exaustão de ar frio (teste de descarga de ar do barril) para melhorar a estabilidade da pressão e a reprodutibilidade.
5. Tempo de execução experimental ultralongo, máquina experimental longa funcionando 999 horas.
6. Proteção do nível de água, através da proteção de detecção do sensor de nível de água da câmara de teste.
7. Abastecimento de água: abastecimento automático de água, o equipamento vem com caixa d'água, e não exposto para garantir que a fonte de água não seja contaminada.
